[发明专利]一种孔径变形测量装置在审
| 申请号： | 202310914766.X | 申请日： | 2023-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN116878450A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 高阳;周辉;胡明明;刘继光;张传庆;卢景景;杨凡杰;胡大伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院武汉岩土力学研究所 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32;G01B21/10 |
| 代理公司： | 武汉知松梁权知识产权代理事务所(普通合伙) 42319 | 代理人： | 刘丽君 |
| 地址： | 430071 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供了一种孔径变形测量装置，包括内套筒、卡位环组件、滑动组件、铰接支架组件、行进轮及导向组件，内套筒的内部设置有应变测量器，应变测量器具有一测量元件，内套筒具有一测量孔位，测量元件与测量孔位相对应；卡位环组件固定于内套筒的外部；滑动组件固定于内套筒的外部；铰接支架组件固定于卡位环组件上，并与滑动组件滑动连接；行进轮固定于铰接支架组件上；导向组件固定于内套筒的外部；其中，铰接支架组件抵于测量元件上，行进轮抵于待测孔的孔壁上，以通过孔壁抵压行进轮带动所述铰接支架组件相对于内套筒伸缩滑动，进而通过伸缩滑动中的铰接支架组件抵压所述测量元件在测量孔位内移动，以测量待测孔的孔径变形数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 孔径 变形 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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