[发明专利]一种逆导型IGBT器件的背面结构及制造方法在审

专利信息
申请号: 202310918131.7 申请日: 2023-07-25
公开(公告)号: CN116825835A 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 李昱兵;张镜华;郝知行;杨蜀湘;王宇 申请(专利权)人: 四川奥库科技有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L21/331;H01L29/06
代理公司: 四川省天策知识产权代理有限公司 51213 代理人: 刘堋;王荔
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种逆导型IGBT器件的背面结构及制造方法,背面结构包括:衬底漂移区;N型缓冲一区和P型注入一区,层叠形成于衬底漂移区上;N型缓冲二区,形成于衬底漂移区上;P型注入二区和N型注入一区,层叠形成于衬底漂移区上;N型缓冲一区和P型注入一区位于P型注入二区和N型注入一区沿横向方向的一端,N型缓冲二区位于P型注入二区和N型注入一区沿横向方向的另一端;金属层,形成于P型注入一区、N型注入一区以及N型缓冲二区的上。本发明实现了逆向也可以导通的性能,可使器件从MOS状态更快切换到IGBT状态。本发明改善了现有的IGBT器件在小电流工作时VCE压降比较高的特点,使IGBT在小电流工作时,VCE压降比较小,能够提高小电流时的工作效率。
搜索关键词: 一种 逆导型 igbt 器件 背面 结构 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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