[发明专利]一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质在审
申请号: | 202310918512.5 | 申请日: | 2023-07-25 |
公开(公告)号: | CN116930627A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 袁浩波;李玉洁;杨普;王楠楠 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R35/00 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 杨晔 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质,方法包括:将待测天线AUT与探头分别进行摆放,使探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心;使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据,对实测数据进行校准,得到平面近场数据;将平面近场数据通过平面多探头补偿算法,得到待测天线AUT的平面波谱,将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式,得到待测天线AUT的远场数据;将待测天线AUT的远场数据在平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和#imgabs0#的均匀网格下进行输出,得到多探头平面近场测量结果;系统、设备及介质,用于实现多探头平面近场测量方法;本发明具有测量时间短、测量结果准确的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 探头 平面 近场 测量方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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