[发明专利]一种真空污染环境下航天器元件性能评价装置与方法在审
| 申请号： | 202310927579.5 | 申请日： | 2023-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN116930052A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 沈自才;王胭脂;王志皓;李大伟;贺洪波;陆叶盛;陈宇;冯宇康;柳畅;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明属于航天器空间环境效应试验技术领域，具体涉及一种真空污染环境下航天器元件性能评价装置与方法。针对太空中真空环境引起的航天器材料尤其是有机材料的出气产物在航天器敏感材料或元件尤其是激光光学元件上沉积，这些产物作为污染源将对航天器敏感材料或激光元件的抗激光损伤能力的影响，该方法提出了真空污染环境下航天器元件性能评价装置，给出了开展太空服役状态下真空污染环境影响航天器抗激光损伤能力的方法。利用该方法，可以准确评价航天器敏感材料受真空污染作用后的抗激光损伤能力，对空间激光作用下的航天器材料及元件的研制、选用和评价提供了支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 真空 污染环境 航天器 元件 性能 评价 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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