[发明专利]点状缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310930218.6 | 申请日： | 2023-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN116645374A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 姚恒志;刘枢;吕江波;沈小勇;王松 | 申请（专利权）人： | 深圳思谋信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/762;G06T7/70 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邱志强 |
| 地址： | 518051 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种点状缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：获取目标对象的对象图；对对象图进行点状特征检测，得到多个点状颗粒；对多个点状颗粒进行聚类处理，得到聚类结果；根据聚类结果，确定多个点状颗粒在对象图中的分布特征；将分布特征满足预设颗粒分布要求的点状颗粒确定为目标对象的点状缺陷。采用本申请，能够提高缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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