[发明专利]一种IGBT产品的测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 202310968211.3 申请日: 2023-08-03
公开(公告)号: CN116679183A 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 肖武;王体;李辉 申请(专利权)人: 深圳市诺泰芯装备有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 南京新众合专利代理事务所(普通合伙) 32534 代理人: 王子瑜
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙井*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种IGBT产品的测试方法及装置,涉及到半导体测试技术领域,通过将多个IGBT产品放置在同一个产品托盘中进行统一压合,可同步移动IGBT产品,保证IGBT产品的测试精度,保证测试良品率,采用一个测试座对应一个产品托盘和一个测试压板,可以节省搬运机械手取放IGBT产品动作的次数,减少IGBT产品的检测时间,提高生产效率,通过利用测试Y轴和测试X轴配合移动产品托盘,方便调节IGBT产品的测试位置,配合IGBT产品与产品托盘之间安装的对位销一,IGBT产品放入产品托盘后,利用对位销一固定基准,保证对位销一与产品托盘之间的配合精度,以及配合产品托盘与测试座之间安装的对位结构二,更好的满足IGBT产品上的测试位与测试座对接,保证测试良品率。
搜索关键词: 一种 igbt 产品 测试 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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