[发明专利]一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310985762.0 | 申请日： | 2023-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN116934735A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 龚贵波;刘贵林;刘景亚 | 申请（专利权）人： | 中冶赛迪技术研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764;G06V10/80;G06V10/60;G06V10/10;G06V10/54 |
| 代理公司： | 上海汉之律师事务所 31378 | 代理人： | 陈强 |
| 地址： | 401122 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测镀层金属板的多个待测晶花图像和检测光源‑相机光轴角度信息，基于检测光源‑相机光轴角度信息和多个待测晶花图像进行第一图像重构得到待测反射率信息图像，将待测反射率信息图像分别与多个预设二维纹理滤波器进行检测卷积得到多个目标特征纹理向量图像，将全部目标特征纹理向量图像输入晶花分类模型进行晶花尺寸分类得到目标晶花尺寸类别，基于多个预设扫描方向计算待测反射率信息图像的多个灰度共生矩阵的能量特征量，根据全部能量特征量得到特征能量均值确定晶花纹理分布均匀程度；通过目标晶花尺寸类别与晶花纹理分布均匀程度提高晶花检测精确度和智能化效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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