[发明专利]用于检测被摄体缺陷的X射线拍摄位置确定方法在审

专利信息
申请号: 202311007796.9 申请日: 2023-08-10
公开(公告)号: CN116930218A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 俞暎在;罗明赞;李羽祥 申请(专利权)人: 埃尔西斯株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李银花;马建军
地址: 韩国全*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 用于检测被摄体缺陷的X射线拍摄位置确定方法。包括:第一步骤,测定X射线发生装置与被摄体之间的第一距离;第二步骤,测定影像获取部与被摄体之间的第二距离;第三步骤,计算加上第一距离、第二距离、被摄体的厚度的第三距离;第四步骤,将第三距离除以第一距离的值作为第一值;第五步骤,将影像获取部的最大识别面积除以第一值的平方的值作为第二值;第六步骤,移动第一和第二移动装置调整第二值,将第二值确定为既定值;第七步骤,确定基于第六步骤中确定的第二值计算的单位拍摄面积,将被摄体划分为单位拍摄面积;第八步骤,控制第一和第二移动装置移动X射线发生装置和影像获取部,以对第七步骤中划分的各个单位拍摄面积执行X射线拍摄。
搜索关键词: 用于 检测 被摄体 缺陷 射线 拍摄 位置 确定 方法
【主权项】:
暂无信息
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