[发明专利]基于高斯超拉普拉斯分布的线结构光中心提取方法及装置在审
| 申请号： | 202311135784.4 | 申请日： | 2023-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN116862919A | 公开（公告）日： | 2023-10-10 |
| 发明（设计）人： | 洪汉玉;朱铖;章秀华;田克耘;吴远哲;高耀;桂传奇;陈思;梁永杰 | 申请（专利权）人： | 武汉工程大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 许美红 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于高斯超拉普拉斯分布的线结构光中心提取方法及装置，属于三维测量领域，该方法包括：根据采集的线结构光图像，基于邻域梯度确定线结构光边界，并根据光条边界之间的差值确定线结构光的光条宽度；在光条边界区域内，对每列灰度值最大的点分别向两侧扩展两倍的线结构光条宽度以确定拟合区间；在拟合区间内对线结构光的每列灰度值进行曲线拟合，得到线结构光每列像素关于灰度值的目标曲线，曲线拟合根据高斯分布曲线和超拉普拉斯分布曲线加权后确定；根据目标曲线的极大值点确定线结构光中心坐标。该方法可避免受噪声干扰，有利于处理复杂条件下采集的线结构光条图像，并且在保证精度的前提下尽量减少数据处理量，保证处理速度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 高斯超 拉普拉斯 分布 结构 中心 提取 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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