[发明专利]操作时间仿真获取方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202311145378.6 | 申请日： | 2023-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116882335A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 李文菊;黎永健 | 申请（专利权）人： | 上海芯存天下电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3312 | 分类号： | G06F30/3312 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈椅行 |
| 地址： | 201208 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片验证技术领域，具体公开了一种操作时间仿真获取方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括以下步骤：获取操作命令的配置信息和操作对象的特性信息；根据配置信息获取操作命令的各个子操作的耗时信息；根据特性信息获取操作命令的各个子操作所需的执行次数信息；根据子操作的类型、对应的执行次数信息和耗时信息生成操作命令的总耗时信息；该方法以子操作耗时信息和执行次数信息为数据基础快速分析出不同操作对象执行不同操作命令的所用时间，能一目了然地仿真出对应芯片产品的时间性能，以便设计人员仿真获取芯片关于时间的运行参数以对芯片进行调试、修改和评估产品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 操作 时间 仿真 获取 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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