[发明专利]序列和后验矩阵的处理方法、装置和计算设备在审
| 申请号： | 202311146735.0 | 申请日： | 2023-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116884503A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 郝俊龙;魏强;卓远;田利民;李锐 | 申请（专利权）人： | 北京齐碳科技有限公司;成都齐碳科技有限公司 |
| 主分类号： | G16B40/10 | 分类号： | G16B40/10;G16B40/20;G16B30/00;G06F18/24;G06F18/25;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人： | 张琳琳;李英 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西小口路*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及纳米孔测序领域，具体涉及用于对表征聚合物的第一向量化表示序列进行处理的方法和装置、对后验矩阵进行处理的处理方法和装置、计算设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。用于对表征聚合物的第一向量化表示序列进行处理的方法包括：将第一向量化表示序列输入第一机器学习模型，得到第一机器学习模型输出的权重向量，权重向量与第一向量化表示序列的长度相同，并且包括多个预测易位值，每个预测易位值指示聚合物相对于纳米孔测序的观测位点在相应时间步移动了多少个聚合物单元；以及将第一向量化表示序列与权重向量进行整合，得到表征聚合物的第二向量化表示序列。 | ||
| 搜索关键词： | 序列 矩阵 处理 方法 装置 计算 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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