[发明专利]测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质在审
| 申请号： | 202311183333.8 | 申请日： | 2023-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN116932413A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 余伟;刘鑫 | 申请（专利权）人： | 深圳市智慧城市科技发展集团有限公司;深圳市智城软件技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 张楠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华富街道莲*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质，其中，所述方法包括以下步骤：获取当前测试对应的缺陷信息，并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台；接收所述缺陷管理平台基于所述缺陷信息反馈的回归测试基础数据；根据所述缺陷信息确定回归测试用例，并基于所述回归测试用例对所述回归测试基础数据进行测试；当测试未通过时，跳转执行所述获取当前测试对应的缺陷信息，并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台的步骤。本发明通过将测试任务对应的缺陷信息发送到缺陷管理平台后，接收缺陷管理平台对应的回归测试数据，进而进行缺陷信息的回归测试，在该过程中，测试平台能够实时跟进缺陷信息的生命周期，进而提高存在缺陷的UI测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 任务 缺陷 处理 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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