[发明专利]芯片及其测试电路在审
| 申请号： | 202311187533.0 | 申请日： | 2023-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN116930723A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 陈岗;章伟;陈诗卓;何学文 | 申请（专利权）人： | 苏州萨沙迈半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司;合肥智芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 吴丹丹 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片及其测试电路，其中，芯片包括电压常开区域和电压可关断区域，测试电路包括：第一供电单元，第一供电单元适于连接芯片的系统电源，以给电压可关断区域供电，其中，系统电源还适于给电压常开区域供电；位于电压常开区域的第一测试单元，第一测试单元被配置为在芯片需进入测试模式的情况下，控制第一供电单元停止工作，以便外部PMIC电源给电压可关断区域供电。该测试电路在芯片需要进入测试模式时，控制内部的第一供电单元停止供电，然后外部PMIC电源才给电压可关断区域供电，避免了内部电源和外部PMIC电源同时驱动对拉的情况发生，从而避免对芯片内部造成损害。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 及其 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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