[发明专利]一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202311189420.4 | 申请日： | 2023-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN116932304A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 杜峰;张亚林 | 申请（专利权）人： | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孔凡红 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；在寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；根据测试表格对目标寄存器进行测试。本发明实施例的技术方案可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 寄存器 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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