[发明专利]设计电路的测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202311197916.6 | 申请日： | 2023-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN116933707A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 郑楚育;何伟;唐丹;包云岗 | 申请（专利权）人： | 北京开源芯片研究院 |
| 主分类号： | G06F30/333 | 分类号： | G06F30/333;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供了一种设计电路的测试方法、装置、设备及介质，涉及电路测试技术领域，包括：获取待测试文件及测试用例；测试用例包括电路输入数据，测试用例是通过Lua语言对设计电路的测试任务进行描述所得到的用例；将待测试文件输入测试用例，并基于测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行待测试文件，获取针对设计电路的仿真输出结果；根据仿真输出结果获取设计电路的测试结果。基于Lua语言描述的测试用例对待测试文件的设计电路进行测试，提高了设计电路的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 设计 电路 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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