[发明专利]一种用于黑碳表面有机物检测的原位质谱识别方法及其应用在审
| 申请号： | 202311198317.6 | 申请日： | 2023-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN116930008A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 杨雪瑞;周磊;石梦瑶;王芳芳;修光利;申鹏林;徐航;金妍;赵骏;周嘉榕 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N27/64 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 余永莉 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于黑碳表面有机物检测的原位质谱识别方法，包括以下步骤：S1，将黑碳均匀覆盖于导电双面胶上，通过滴加有机物溶液、风干，得到表面附着有机物的黑碳；S2，对有机物在黑碳表面进行原位质谱识别检测方法的探索，包括：基质种类、基质涂覆方式、喷涂厚度、激光斑点直径及激光强度的优化；S3，采用筛选得到的优化条件，进行MALDI‑MSI成像检测。根据本发明提供的方法，通过成像基质的筛选、基质涂覆方式的选择、基质喷涂厚度及仪器参数设定的优化，使目标物质的信号强度提升，成像热图更加清晰直观，实现有机物在黑碳表面的原位识别检测，本发明还提供了一种原位质谱应用于大气颗粒物表面有机污染物检测的应用方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 表面 有机物 检测 原位 识别 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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