[发明专利]基于探针扫描的纳区光致发光探测系统及方法在审
| 申请号： | 202311207234.9 | 申请日： | 2023-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN116930130A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 白本锋;黄嘉泰;孙洪波 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01Q60/24;G01N21/88;G01B11/24;G01B9/04 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 吴丹丹 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及光学器械技术领域，具体涉及一种基于探针扫描的纳区光致发光探测系统及方法，其中，系统包括：倒置显微成像模块，用于调控底部激发光源，将激发光源聚焦于探测目标的表面，生成探测目标的聚焦光斑处的光场信号；原子力显微镜模块，用于在获得所述探测目标的形貌信息的同时，散射并调制探测目标的聚焦光斑处的光场信号，通过倒置显微成像模块收集并转换为调制电学信号；信号处理模块，用于解调调制电学信号，得到包括光致发光在内的超分辨纳区光场信息。由此，解决了相关技术中的光致发光扫描探测系统受限于光学衍射极限，空间分辨率低，难以应用于被检测材料局部的纳米级尺度的缺陷检测的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 探针 扫描 光致发光 探测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202311207234.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种连续自动式环网柜钣金成型装置
- 下一篇：一种纤维支气管镜
