[实用新型]一种稳定的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202320136700.8 | 申请日： | 2023-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN218974524U | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 刘佳均;郭静;季春瑞;许桂洋;贾亚飞;张浩 | 申请（专利权）人： | 安徽新芯威半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京云嘉湃富知识产权代理有限公司 11678 | 代理人： | 王荃 |
| 地址： | 243000 安徽省马*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种稳定的芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。主要包括下座，下座的两侧均设置有两组滑槽，滑槽内滑动连接有滑块，滑块上安装有连杆，连杆上安装有上盖，滑块内安装有弹性卡块，滑槽下侧设置有卡槽，卡槽用于与弹性卡块配合对滑块的位置进行固定，当将芯片放置到下座内后，将两侧上盖垂直向下移动，使得滑块在滑槽内向下移动，当滑块移动到滑槽下端时，上盖到达对芯片上端的按压位置，弹性卡块与卡槽配合通过连杆使得上盖的位置固定，从而提高芯片安装受力的稳定性。本申请的一种稳定的芯片测试装置达到了稳定安装的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 稳定 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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