[实用新型]一种3.0/3.1协议USB接口的U盘老化测试机有效

专利信息
申请号: 202320278428.7 申请日: 2023-02-22
公开(公告)号: CN219676153U 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 柴新辉;占志敏 申请(专利权)人: 深圳市维绅科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 深圳市圳博友邦专利代理事务所(普通合伙) 44600 代理人: 王玲玲
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 实用新型公开了一种3.0/3.1协议USB接口的U盘老化测试机,属于U盘老化测试设备技术领域。本实用新型包括主机、PCIE扩展卡、NVME扩展卡、HUB集线器。其中,PCIE扩展卡安装在主机的PCIE插槽上,NVME扩展卡安装在PCIE扩展卡的PCIE插槽上,HUB集线器与NVME扩展卡上的插口电性连接,HUB集线器上设有若干USB插口。测试时将U盘插在USB插口上即可。本实用新型通过将主机的PCIE插槽扩展,再采用NVME扩展卡扩展,最后采用10Gbps传输速度的HUB集线器把USB插口扩展到64个,单个USB插口的读写速度均达到100MB/s;同时HUB集线器采用两种安装方案满足小批量和大批量生产,有效减小U盘老化测试机的空间,提高U盘工厂生产效率,节省设备投入费用,更加节能、省地、节省人工费用等。
搜索关键词: 一种 3.0 3.1 协议 usb 接口 老化 测试
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市维绅科技有限公司,未经深圳市维绅科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202320278428.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top