[实用新型]一种芯片的测试电路系统有效
| 申请号： | 202320719123.5 | 申请日： | 2023-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN219758429U | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 张龙泉 | 申请（专利权）人： | 深圳市九天睿芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H02J9/04 |
| 代理公司： | 深圳砾智知识产权代理事务所(普通合伙) 44722 | 代理人： | 翁治林 |
| 地址： | 518049 广东省深圳市福田区梅林街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片的测试电路系统，涉及芯片测试技术领域，解决了现有芯片测试中容易因电源问题产生外部干扰，产生误判结论，增加了测试时间和成本的技术问题。该系统包括测试主板，测试主板上至少设置有数据接口、显示接口、电源接口、及电源电路；通过数据接口对待测芯片进行测试数据的发送和接收，显示接口用于与测试仪表连接；电源接口与电源电路连接，电源电路与待测芯片电连接且向待测芯片进行供电；电源电路包括至少一路LDO低压差线性稳压器，与显示接口电连接，且通过短路电阻与待测芯片电连接。本实用新型可以通过切换测试仪表供电、电源电路供电去排除电源问题的干扰，降低了误判结论产生的可能，节约了测试时间和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 电路 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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