[其他]用影象云纹检测光学元件性能的方法无效
| 申请号： | 85100065 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100065A | 公开（公告）日： | 1986-08-06 |
| 发明（设计）人： | 叶绍英 | 申请（专利权）人： | 清华大学;中国人民解放军57605部队 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 章瑞溥 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用影象云纹法检测光学元件性能的方法。该方法采用了投影云纹原理，将被测物体放入投影云纹光路中，若有光学畸变就会引起云纹栅线的偏移。因此显示屏上就会出现云纹的变化，达到检测的目的。本发明可对玻璃、有机玻璃制品如眼镜、防毒面具镜片、平板玻璃、汽车后视镜等进行全场直观的检查鉴定。与现行的逐点检查方法相比具有迅速、不遗漏、精度高等的优点。按本发明原理可制造各种仪器检测光学元件的畸变。 | ||
| 搜索关键词： | 影象 检测 光学 元件 性能 方法 | ||
【主权项】：
一种检测光学元件光学性质的方法，其特征是光源[1]的光线、经聚光镜[2]均匀照射在投影密栅版[3]上，通过透镜组[4]与基准密栅版[6]产生干涉出现云纹在毛玻璃显示屏[7]上成象，如在透镜组和基准密栅版之间插入被测光学元件[5]或[9]如被测光学元件有畸变则透过被测光学元件[5]或被光学元件[9]反射的光线在与基准密栅版产生光学干涉后，在毛玻璃显示屏上的云纹图象即产生畸变。
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