[发明专利]用影象云纹检测光学元件性能的方法

摘要

一种用影象云纹法检测光学元件性能的方法。该方法采用了投影云纹原理，将被测物体放入投影云纹光路中，若有光学畸变就会引起云纹栅线的偏移。因此显示屏上就会出现云纹的变化，达到检测的目的。本发明可对玻璃、有机玻璃制品如眼镜、防毒面具镜片、平板玻璃、汽车后视镜等进行全场直观的检查鉴定、与现行的逐点检查方法相比具有迅速、不遗漏、精度高等的优点，按本发明原理可制造各种仪器检测光学元件的畸变。

主权项

1.一种检测透射型光学元件光学性质的方法，其实施步骤包括：光源[1]的光线经聚光镜[2]形成平行光束；该光束均匀透过投影密栅版[3]后形成栅线条纹的光线，该光线通过透镜组[4]照射到位于透镜组[4]后侧的基准密栅版[6]上，两组栅线产生干涉，在位于基准密栅版后侧的毛玻璃显示屏[7]上可观测到所形成的云纹图象；当在透镜组[4]和基准密栅版[6]之间插入透射型被测光学元件[5]时且该被测光学元件[5]上有畸变时，则透过被测光学元件[5]的投影密栅版[3]的栅线图形与基准密栅版[6]的栅线图形产生光学干涉，在毛玻璃显示屏[7]上观测到的云纹图象即产生畸变；其特征在于：被测光学元件[5]是位于非平行光场中的，且投影密栅版[3]的栅线图形，是通过透镜组[4]和透射型被测光学元件[5]投影到基准密栅版[6]并成象于毛玻璃显示屏[7]上的。