[其他]聚焦-半聚焦两用X光衍射计无效
| 申请号： | 85100097 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100097A | 公开（公告）日： | 1986-09-03 |
| 发明（设计）人： | 汪泓宏 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 罗文群 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于测定晶体物质结构的聚焦〔西曼-博林〔Seeman—Bohlin)〕和半聚焦〔布拉格-布伦塔诺(Bragg—Brentano)〕两用的X光衍射计。这种衍射计，通过现场装拆少量部件，可用作聚焦衍射计，或半聚焦衍射计；具有一机两用的优点。其主要技术特征是在两同心的中心轴上装备一套三齿轮系统。 | ||
| 搜索关键词： | 聚焦 两用 衍射 | ||
【主权项】：
1、一种用于测定晶体物质结构的聚焦[西曼-博林(Seeman-Behlin)]和半聚焦[布拉格-布伦塔诺(Bragg-Brentano)]两用X光衍射计，其特征是在通常的半聚焦X光衍射计的两同心的中心轴上装备一个三齿轮的系统。
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