[其他]单模光纤双折射测量方法无效
| 申请号： | 85100420 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100420B | 公开（公告）日： | 1988-04-13 |
| 发明（设计）人： | 黄上元;林宗琦 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学光纤技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 颜承根 |
| 地址： | 上海市法华*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差2φ的绝对值，绘出sin2φ～a2l2曲线(此处l2为光纤中间未粘部分的长度，a2为其扭曲率)，将曲线极值点的横坐标代入公式(I)，求出双折射值。测量是通过单色光源、偏振片、物镜、光纤固定装置、光纤扭曲装置、四分之一波长片、光检测器等进行的。 | ||
| 搜索关键词： | 单模 光纤 双折射 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种单模光纤双折射的测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤，其步骤包括：
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