[发明专利]高分辨率深能级瞬态谱仪的设置方法及仪器无效

专利信息
申请号: 85100447.4 申请日: 1985-04-03
公开(公告)号: CN1003471B 公开(公告)日: 1989-03-01
发明(设计)人: 孙勤生 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22;H01L21/66
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 属于半导体深能级谱的测量仪器,本发明提出了高分辨率组合率窗系列,设计了多种方案的高分辨率组合率窗讯号处理仪,以及用此处理仪而得到的高分辨率深能级瞬态(电容)谱仪等多种高分辨率深能级谱仪,本发明仪器所得实验谱线与已有相比,显著地提高了分辨率,本发明可形成一代新的深能级瞬态谱仪。
搜索关键词: 高分辨率 能级 瞬态 设置 方法 仪器
【主权项】:
1.关于半导体深能级瞬态谱仪中瞬态信号处理仪的设置方法,其特征是对瞬态讯号设置多点组合率窗系列SRW(m),即对一个瞬态讯号设置多于两个(m≥3)不同时间的取样点(t1、t2、……tm),由其组合构成率窗,具体组合方法由比取样点少一的二个相邻近率窗的谱讯号之差获取:S(3)=S(t1、t2)-S(t2、t3)...S(m)=S(t1、t2…tm-1)-S(t2、t3…tm)=S(t1)-a2mS(t2)+…+(-1)n-1anmS(tn)+…+(-1)m-1S(tm)
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