[其他]介质材料及元器件温度特性辅助测试装置无效

专利信息
申请号: 85102036 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85102036B 公开(公告)日: 1988-06-01
发明(设计)人: 袁战恒;姚熹;孟中岩 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 西安交通大学专利事务所 代理人: 来智勇
地址: 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种介质材料及元器件辅助测试装置,与其它介质材料或元器件测试或分析仪器联用,可测试介质材料或元器件的等效阻抗、电容量、电感量、损耗角正切,等效串联电阻等电参数的效率温度特性。该辅助测试装置具有体积小、重量轻、移动方便、耗电小,制作简使等优点。
搜索关键词: 介质 材料 元器件 温度 特性 辅助 测试 装置
【主权项】:
1.一种辅助测试装置,借助于介质材料或元器件测试仪器或分析仪器测试介质材料或元器件的频率温度特性,其特征在于具有用来放置介质材料或元器件的测试腔,使测试腔的温度升高或降低的变温器和连接测试腔与测试仪器或分析仪器的测试传输线,测试传输线在可测温度范围内能保持阻抗恒定或近似恒定。
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