[发明专利]陶瓷及其同类材料的热变形测量系统无效
申请号: | 85103687.2 | 申请日: | 1985-05-17 |
公开(公告)号: | CN1004833B | 公开(公告)日: | 1989-07-19 |
发明(设计)人: | 京田洋;远藤容弘;藤原祯一;三村岁贞;西川喜八郎;西沢章一 | 申请(专利权)人: | 品川白炼瓦株式会社;松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 栾本生,赵蓉民 |
地址: | 日本东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 陶瓷及其同类材料的热变形测量系统至少包括一个向样品的端部投射光束的照明器,至少有一个装有套筒透镜的变形测量照像机及能消除红外线的滤光片和数据处理装置。 | ||
搜索关键词: | 陶瓷 及其 同类 材料 变形 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种测量陶瓷及其同类材料的热变形的系统,在该系统中,一对或两对照明器放置在样品电炉的一侧,一对或两对望远透镜放置在所述电炉的另一侧,从而读出样品两个端面的变形,其特征在于包括:所说望远透镜的每一个都设置一个带有光二极管线性阵列的照像机,用于测量所述样品被加热时的尺寸变化和形状变化,还设置一组光学透镜,用于使被加热样品成像。用于从所述照像机的相对侧照明所述样品的照明装置,该装置有一个电灯和多个聚焦透镜,所述灯泡的辐射特征曲线不同于被加热样品的辐射特征曲线。用于从由所述被加热样品发射的光辐射中分离光形成图像的分离装置,该装置在所述样品和所述透镜之间有消除红外线的滤光器,以及用于从具有预定间距的光二极管线性阵列给出的信号处理和计算视频信号的装置,所述光二极管线性阵列带有内插图像间距以增加测量精度的成像处理单元。
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