[其他]颗粒大小分布测量装置无效
| 申请号： | 85104282 | 申请日： | 1985-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN85104282A | 公开（公告）日： | 1986-12-03 |
| 发明（设计）人： | 竹内和;林田和弘;矢野省三 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 日本京都府京都市中京区*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 利用离心力场测量颗粒大小分布的一种装置。它包括使悬浮液旋转的一种结构；用于检测悬浮液对光的吸收的一种光学单元，以及一种微型计算机。悬浮液悬浮待检测的颗粒，颗粒的大小分布将被测量。光学单元测量与时间有关的颗粒浓度的变化，这种变化是由于悬浮液旋转所产生的离心力场迫使颗粒运动引起的。微型计算机提供了一个存贮器，用于存贮根据测量的颗粒浓度变化计算颗粒大小分布的公式，以及用于校正在离心力场中由于非平行颗粒运动引起的有害影响的公式，这一公式给出了没有非平行颗粒运动误差的颗粒大小分布。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 大小 分布 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种颗粒大小分布的测量装置，在该设备中把要测量的颗粒大小分布的颗粒悬浮在一种悬浮液中，悬浮液置于离心力场中，使上述的颗粒在悬浮液中运动，通过检测所说悬浮液中与时间有关的颗粒的局部浓度变化来测量颗粒大小分布；所述的装置包括一种存贮器，用于存贮；第一个程序，用于校正由所说的颗粒非平行向心运动对表观颗粒浓度的影响；第二个程序，用于校正由所说的颗粒非平行离心运动对表观颗粒浓度的影响，并且设计或能够选择地执行上述第一个或者上述第二个程序。
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