[其他]辐照显示薄膜剂量计及其制法无效
| 申请号： | 85104437 | 申请日： | 1985-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN85104437B | 公开（公告）日： | 1987-11-25 |
| 发明（设计）人： | 王艳乔;周小民;唐掌雄;张恭明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所;中国农业科学院原子能利用研究所北京市辐射中心 |
| 主分类号： | G01T1/04 | 分类号： | G01T1/04 |
| 代理公司： | 中国科学院专利事务所 | 代理人： | 黄永奎 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于核辐射技术中剂量的监测，其内容包括一种用于60Coγ-射线辐照剂量监测的薄膜剂量计及其制法。该薄膜计量计是由含氯共聚物和染料隐色体所组成。它对可见光不敏感，对60Coγ-射线具有相当敏感性，其主要成分含有与被照物质等效的C、H、O、N等元素。该薄膜剂量计结构简单、容易制造，可为农、工、医等各领域的现场使用提供一种灵敏、可靠、稳定、直观性强的监测显示手段。剂量监测显示范围为103-107rad。 | ||
| 搜索关键词： | 辐照 显示 薄膜 剂量计 及其 制法 | ||
【主权项】：
1、一种属于核辐射领域辐射加工技术中，60Coγ-射线辐射剂量监测和显示用的信息记录介质一辐照显示薄膜剂量计，其特征在于它由聚酯片基、碘化亚铜导电层以及含氯量为55～60%的偏二氯乙烯-丙烯酸甲酯共聚物和五甲氧基红制成的敏感乳剂层以及聚乙烯醇保护膜所组成。
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