[其他]微波高度测量方法和装置无效

专利信息
申请号: 85104668 申请日: 1985-06-18
公开(公告)号: CN85104668B 公开(公告)日: 1988-07-27
发明(设计)人: 科特·奥洛夫·艾德瓦德森 申请(专利权)人: 塞伯海洋电气公司
主分类号: G01S9/24 分类号: G01S9/24;G01S13/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 李强
地址: 瑞典格特伯格S-4*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 材料高度的微波测量。发送装置产生出具有对应于待测距离之频率的测量信号。和具有对应已知长度之频率的基准信号。用一与该距高的假设值和已知长度有关的数乘基准信号,并用一固定数除之。以使该信号的频率等于测量信号的期望频率。把产生的控制信号同该测量信号相混合,测量相位差,并计算相继的取样间隔中的相位差变化,以确定假设距离的修正项。
搜索关键词: 微波 高度 测量方法 装置
【主权项】:
1.采用微波信号来确定从一根天线到一固态或液态物质表面的距离(H)的方法,上述微波信号是在相继的扫频过程中产生的,並且其频率在每个扫频过程中基本上平稳地沿着一个方向进行变化;其中所述微波信号的一部分由所述天线发射出去並射向所述表面,在被所述表面反射並经厉了与所述距离相应的传播时间之后,这部分微波信号得到接收,並在被接收时与此时所发射的微波信号进行混频,从而得到具有测量频率(fm)的测量信号;上述测量频率(fm)取决于所述距离(H);而所述微波信号的另一部分受到相应于已知长度(L)的延迟,並在延迟之后得到接收,並且通过与此时所产生的微波信号进行混频,从而被转换成具有基准频率(fr)的基准信号;所述基准频率(fr)对应于所述已知长度(L)並同所述测量频率(fm)相联系,以便能够根据所述已知长度来计算所述距离(H);所述方法的特征在于下列步骤:A.在每一次扫频中形成一种控制信号,这种控制信号的频率大致等于该扫频过程中测量信号的期望频率,在每一次扫频中通过下列步骤来形成上述控制信号:(1)用一个可变整数(Q)来乘基准信号的频率(fr);对上述可变整数(Q)进行适当选择,以便其基本上同所述距离(H)之近似值(h)除以所述已知长度(L)所得的商成正比;(2)用一个固定数(Z)来除所得到的频率;B.将所述控制信号同测量信号进行比较以确定这些信号之间的位相差;C.确定该控制信号同该测量信号之间的相位差在扫频过程的预
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