[其他]半导体辐射检测器无效
申请号: | 85106296 | 申请日: | 1985-06-26 |
公开(公告)号: | CN85106296A | 公开(公告)日: | 1986-12-24 |
发明(设计)人: | 熊泽良彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 杨晓光 |
地址: | 日本东京都中京区河*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 半导体辐射检测器,其辐射检测元件由可在室温下工作的化合物半导体制成。该元件的输出加到包括一准高斯滤波器的脉冲形成放大器。该滤波器包括微分器和积分的组合;通过对微分器引起的信号脉冲高度和形成放大器输出的脉冲高度进行比较,获得每次辐射时有关电荷收集时间的信息,根据上述信息对形成放大器的输出进行校正,进而改善电荷收集不完全导致的能量分辨率衰变。还提供一种采用上述元件的半导体位置敏感辐射检测器。 | ||
搜索关键词: | 半导体 辐射 检测器 | ||
【主权项】:
1、半导体辐射检测器包括:(a)由化合物半导体制成的辐射检测元件,它可在室温下工作,响应每次辐射产生一个相应的电流信号;(b)将上述电流信号放大以产生一个相应的电压信号的前置放大器;(c)将上述来自所说前置放大装置的信号形成和放大的装置,它包括一个准高斯滤波器,该滤波器包括有一个第一微分器和一个积分器的组合体;(d)在每次辐射时获得有关电荷收集时间信息的装置,该装置将上述第一微分器的输出引起的信号的脉冲高度与上述形成和放大装置的输出脉冲高度进行比较来获得上述信息;(e)校正装置,该装置按照每次辐射有关电荷收集的信息对上述形成和放大装置输出信号的脉冲高度进行校正,以改善由于电荷收集不完全引起的能量分辨率衰变。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/85106296/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:内燃机的燃料注入控制方法
- 下一篇:多用几何绘图器