[其他]光学测量系统无效
申请号: | 85106386 | 申请日: | 1985-08-24 |
公开(公告)号: | CN85106386A | 公开(公告)日: | 1987-03-18 |
发明(设计)人: | 西原贞光;河原勇司 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰制作所 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 日本东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 以非接触方式测量物体长度的光学测量设备,它有一个发射平行扫描线,如激光束以扫描待测物体的光扫描系统。平行扫描线由一个光检测器检测,当光线被物体阻挡时,它产生一个暗输出信号;当光线没有被物体阻挡时,它产生一个亮信号。代表物体外形边缘的被检测到的信号被送给一个计数器以控制起/停开关,该计数器对起停时间内的时钟脉冲计数。这个计数值可以给出物体外形的长度。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 系统 | ||
【主权项】:
1、一种光学测量设备,包括一个能用平行扫描测量光线照射被测物体的扫描光源部分,一个用来检测当上述平行扫描测量光线通过上述物体时的强度变化,以产生光电检测输出信号的光电检测器,一个用来在上述光线扫描期间对时钟脉冲计数的计数器。上述被测物体的长度决定于当上述平行扫描测量光线沿着上述物体长度方向移动时,在上述计数器中得到的计数值。作为上述设备的特征:上述计数器,在上述平行扫描测量光线通过被测物体的起始端时,就开始它对时钟脉冲的计数操作;此外,上述设备还包括一个暂时禁止电路,它使上述计数器的计数操作阻塞一段时间,这个时间或者对应于上述计数操作开始以后,上述平行扫描测量光线通过上述物体时产生的伪检测信号,或者对应于指示上述物体的终止端的检测信号;一个寄存器,它在禁止期间上述计数器的输出稳定以后,锁存上述计数器的输出;一个修正电路,它在计数操作期间和上述锁存操作结束以后,把一个对应于上述阻塞周期的修正值加到上述计数器。所有在平行扫描测量光线通过上述物体过程中产生的伪检测信号都被抛掉,从而实现以在上述物体的起始端和终止端之间所计入的时钟脉冲数为基础的正确测量。
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