[发明专利]测光装置无效
| 申请号： | 85107724.2 | 申请日： | 1985-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN1003394B | 公开（公告）日： | 1989-02-22 |
| 发明（设计）人： | 藤田茂 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01K11/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理有限公司 | 代理人： | 吴秉芬 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明是关于具有通过其光的透射量根据温度而变化的材料进行受光，并将光量变换为电量的光接收部件的光检测装置，通过设置由恒流源激励部件所激励的发光二极管光源，藉着检测这个发光二极管的正向电压并以这检出值来补正光接收部件的输出，消除上述发光二极管的由于温度变化而引起波长变化所造成的测定误差。 | ||
| 搜索关键词： | 测光 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测光装置，具有一由恒流源激励部件激励的发光二极管，一用以透射发于上述发光二极管的光，而其透射特性具有波长依存性，且为被测光量的函数的透光材料，一接收透过上述透光材料的光并将之变换为电量的光接收部件，以及一信号处理部件，其特征在于，该测光装置进一步备有一检测上述发光二极管的正向电压的电压检测机构、以及所说的信号处理部件根据上述电压检测机构的输出修正上述光接收部件的输出，从而消除上述发光二极管随着温度变化而发生波长变化所造成的检测误差以计算测定量。
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