[发明专利]低温等离子体的化学检测方法无效
申请号: | 86101111.2 | 申请日: | 1986-02-24 |
公开(公告)号: | CN1009962B | 公开(公告)日: | 1990-10-10 |
发明(设计)人: | 朴东旭;咸文淑;刘静;陈雪芹;胡元洁;黄玉丽 | 申请(专利权)人: | 北京化学纤维研究所 |
主分类号: | G01N31/00 | 分类号: | G01N31/00;C08J7/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 北京市东*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 等离子体空间分布的检测方法。借助二苯基苦基酰肼与自由基的定量反应测定出在放电反应管内特定部位上被低温等离子体照射过的固体样品的表面过氧化基量,由此推断等离子体空间分布的均匀度。此法首次提出了利用化学反应进行等离子体诊断的方法,同传统的物理法诊断技术相比,简便、实用,可以将检测数据与等离子体化学反应的最终结果建立连系。 | ||
搜索关键词: | 低温 等离子体 化学 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体空间分布的检测方法,其特征是,将固体样品放在放电反应器之中进行放电使固体表面受到等离子体的作用,在其表面形成新的化学基团,然后借助化学定量反应测定在固体表面上所形成的化学基团。
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