[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 86101209.7 申请日: 1986-02-26
公开(公告)号: CN1009887B 公开(公告)日: 1990-10-03
发明(设计)人: 彼得·丹尼斯·斯科维尔;彼得·弗里德·布洛姆利;罗格·莱斯利·贝克;加里·约翰·托姆金斯 申请(专利权)人: 标准电话电报公共有限公司
主分类号: H01L29/72 分类号: H01L29/72;H01L21/18
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 沙捷
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种完全自对准的多晶硅发射极双极晶体管P+基极接触(12)的自对准是通过利用发射极台面(7)的氧化侧壁(8)(侧壁隔层)作为P+基极接触注入掩模的一部分而获得的,集成极接触(13)的对准是利用多晶硅对准台面(14)的氧化侧壁而获得的,该对准台面限定在同发射极台面(7)样的多晶硅中。但淀积在氧化物(2)上,而不是淀积在注入的基区(5)中。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种制造双极型晶体管的方法,其特征在于包括下列步骤:在半导体衬底中基区的未氧化表面上限定一多晶硅发射极台面;在该半导体基底上进行氧化处理从而生成氧化层,部分氧化层扩展到包括顶都和侧壁的发射极台面上;将基极接触区注入通过该氧化层与基区接触的衬底;至少利用发射极台面的一个侧壁上的氧化层作为注入掩模的一部分,这样,基极接触区就发射极台面自对准,注入掩模的另一部分由光刻胶提供。
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