[其他]真空系统返油红外光谱测定法无效
申请号: | 86101614 | 申请日: | 1986-03-06 |
公开(公告)号: | CN86101614B | 公开(公告)日: | 1988-07-27 |
发明(设计)人: | 袁一鹏;刘国庆 | 申请(专利权)人: | 南京工学院 |
主分类号: | G01N33/28 | 分类号: | G01N33/28;G01N21/35;F04B51/00 |
代理公司: | 南京工学院专利事务所 | 代理人: | 楼高潮,姚建楠 |
地址: | 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 真空泵及真空设备返油红外光谱测定,属于真空技术。付里叶变换红外分光光度计进行红外光谱微量分析,测定单位面积薄油膜的含油量。用于真空泵如真空油扩散泵和真空设备如真空镀膜机等返油或返油污染的测定,并可测定它们返油的平面分布和空间分布情况。 | ||
搜索关键词: | 真空 系统 红外 光谱 测定法 | ||
【主权项】:
1.一种真空泵及真空设备返油率的测定方法,其特征在于将透红外材料制成的取样片(3,6)置于所需测量的位置,使其形成微薄的返油膜,取出后用红外分光光度计测量选定的红外吸收特征谱带峰值处的吸光度Ap,再由公式计算出真空泵及真空设备的返油率R,其中g为待测吸光物质的比重:t为真空泵及真空设备在取样片上形成返油膜的工作时间;待测吸光物质的吸光系数K通过测量与待测吸光物质相同的纯样品在选定特征谱峰值处的吸光度A,由公式A=k·b计算而得,b为纯样品油膜的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京工学院,未经南京工学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/86101614/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:配制稳定的丙酸铬(III)溶液的方法
- 下一篇:冷轧制机润滑剂