[发明专利]恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪无效
| 申请号： | 86101835.4 | 申请日： | 1986-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN1003140B | 公开（公告）日： | 1989-01-25 |
| 发明（设计）人： | 张国威 | 申请（专利权）人： | 北京工业学院 |
| 主分类号： | G01J3/14 | 分类号： | G01J3/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明是在变束棱镜分光系统中，采用了一种转向变束棱镜(两种型式)，因而使这种分光系统不仅有很高的分辨率，而且其出射光与入射光方向之间有恒定的偏转角，是一种具有多方面优点的分光系统。预见有可能取代目前使用的传统的三棱镜或它的变形棱镜所组成的分光系统，并可与光栅分光系统相媲美。 | ||
| 搜索关键词： | 偏向 高分辨率 棱镜 光谱仪 | ||
【主权项】：
1.恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪，由入射狭缝[1]，出射狭缝[2]，准光物镜[3]，成象物镜[4]和变束棱镜组组成，其特征在于，变束棱镜组是由1～5对变束棱镜组成，其中每一对棱镜是由棱镜折射角Ai相等，材料相同的变束棱镜构成为一个恒偏向分光单元，棱镜折射角Ai为20°～45°，分光时，只需转动后一个转向变束棱镜，即可实现恒偏向分光。
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