[发明专利]线圈绕向测试仪无效

专利信息
申请号: 86106945.5 申请日: 1986-11-03
公开(公告)号: CN1013308B 公开(公告)日: 1991-07-24
发明(设计)人: 梁建国 申请(专利权)人: 梁建国
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 中国科学院武汉专利事务所 代理人: 王幼明
地址: 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 线圈绕向测试仪是当被测线圈尚能构成通路(包括已短路的)时,振荡器振荡使线圈中电流变化,经铁芯产生一交电磁通,耦合到被测线圈及与其同一铁芯上的原线圈,原线圈与被测线圈接成串联状,通过检测,两线圈串联后输出的交流电压高与低,便可知被测线圈与原线圈同向与否。当被测线圈断路时,则报警器报警,表示被测线圈断路。
搜索关键词: 线圈 测试仪
【主权项】:
1.一种线圈绕向测试仪,特别适用于测试电视机高压线圈,包括绕向测试单元、断路报警单元、振荡器单元、原线圈、电源,其特征在于控制单元由达林顿功率放大器、继电器[J1]和[J2]、二极管[D3]、被测线圈组成,继电器[J1]和[J2]吸合线圈的两端与二极管[D3]并接后,再一起串接入晶体管BG2的发射极与地之间,其中继电器[J1]的[J1-11]与被测线圈[LZ]的[d]点联接,[J1-21]与被测线圈[LZ]的[c]点连接,[J1-12]与原线圈[L4]的[b]点联接,[J1-22]与地联接,[J1-13]与电阻R27、R2、按纽[AN]的[f]点、晶体管BG1和BG2的集电极联接,[J1-23]与晶体管BG1的基极、继电器[J2]的[J2-2]联接,继电器[J2]的[J2-1]与电阻R27联接,[J2-2]与晶体管BG1的基极、继电器[J1]的[J1-23]联接,[J2-3]与电阻R3联接。
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