[发明专利]玻璃微珠高折射率的测定方法无效
| 申请号： | 87101087.9 | 申请日： | 1987-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN1010891B | 公开（公告）日： | 1990-12-19 |
| 发明（设计）人： | 陈显球;虞玲;方凌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人： | 聂淑仪,潘振甦 |
| 地址： | 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 选用经最小偏角法测得的AgBr、AgCl的高折射率(n介10-4)材料作介质；用Interphako显微干涉法，测玻璃微珠的直径D，干涉条纹位移量b/a，根据介质的n介，D、b/a，测量时所用光的波长，即可按公式算出微珠折射率。本发明方法简便可行，精度高(可达10-4)，可对大批微珠进行逐个、无损的测定。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 微珠高 折射率 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种玻璃微珠高折射率的测定方法，包括：最小偏角法，Interphako(干涉相衬)显微干涉法，其特征在于：A.选用高折射率材料(AgBr、AgCl)作为测量介质，并测其折射率n；B.将介质熔化，填埋玻璃微珠，作成试片；C.用Interphako显微干涉法测定试片中玻璃微珠的直径D，干涉条纹位移量b/a；D.选用波长为λ的光，进行测试；E.根据公式计算玻璃微珠折射率n珠。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所，未经中国科学院上海硅酸盐研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/87101087.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：苯并吡喃衍生物的制备方法
- 下一篇：磷化镓发光二极管电极制备工艺
