[发明专利]测量粗糙度的非激光核带比法无效
| 申请号： | 87101225.1 | 申请日： | 1987-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN1033689A | 公开（公告）日： | 1989-07-05 |
| 发明（设计）人： | 程路 | 申请（专利权）人： | 南开大学 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 南开大学专利事务所 | 代理人： | 刘志国 |
| 地址： | 天津市卫*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 测量粗糙度的非激光“核—带比”方法。本发明属于表面粗糙度有光学测量技术。测量物体表面粗糙度的“核—带比”方法是一种新方法。本发明是将该方法中的激光光源进一步改为辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管普通非激光光源，并给出了相应公式。理论和实测表明其测量精度与用激光光源时一样，不低于现行的触针式轮廓仪。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 粗糙 激光 | ||
【主权项】：
一种测量物体表面粗糙度的“核-带比”方法，其特征在于采用辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管等光源作为测量光源。
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