[发明专利]同位素X荧光载流测定矿浆浓度的方法无效
| 申请号： | 87102281.8 | 申请日： | 1987-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN1011439B | 公开（公告）日： | 1991-01-30 |
| 发明（设计）人： | 李增强;张宏江;张世春;金晓威 | 申请（专利权）人： | 冶金工业部包头稀土研究院 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203 |
| 代理公司： | 冶金专利事务所 | 代理人： | 陈佩琦 |
| 地址： | 内蒙古自治区*** | 国省代码： | 内蒙古;15 |
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| 摘要： | 一种同位素X萤光载流测定矿浆浓度的方法，采用低能光子源238Pu激发矿浆样品，利用在线X荧光分析中一般作为干扰谱线处理的反散射峰强度测出与其对应的瞬时浓度值。可以在线测定含各种元素、任何范围的矿浆浓度值。 | ||
| 搜索关键词： | 同位素 荧光 测定 矿浆 浓度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种同位素X荧光载流测定矿浆浓度的方法，其特征在于测定方法包括以下步骤：(1)利用低能光子源238Pu激发矿浆样品，以产生与矿浆浓度有关的反散射脉冲；(2)测量经矿浆的反散射峰强度与标准矿浆浓度之间的单值对应关系，根据该关系确定数学模型C＝A.I8B，式中C为矿浆浓度，Is为反散射峰强度，A、B为利用回归法确定的常数；(3)对待测定的矿浆样品重复步骤(1)；(4)测量经矿浆样品的反射峰强度Is；(5)将Is代入(2)中的数学模型中，计算出浓度C。
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