[发明专利]半导体电压控制变容器无效
申请号: | 87103188.4 | 申请日: | 1987-04-29 |
公开(公告)号: | CN1005885B | 公开(公告)日: | 1989-11-22 |
发明(设计)人: | 朱长纯;刘君华 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L29/92 | 分类号: | H01L29/92;H01L29/93 |
代理公司: | 西安交通大学专利事务所 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体电压控制变容器,属电压控制的用于振荡或转换的半导体器件,具有MINP(金属-绝缘体-N型半导体-P型半导体)四层结构,该器件的电容值随两端所加电压的变化作特殊的变化,因而用途广泛,如可完全替代现有的变容二极管用于非线性振荡器,电压-频率变换器,有源滤波器、自动调谐、稳频器等电路中,也可作频域中的三值电路。本器件制作工艺一般,且与集成电路工艺相容,易于制得复合功能的集成块。 | ||
搜索关键词: | 半导体 电压 控制 容器 | ||
【主权项】:
1、一种MINP四层结构的电压控制变容器,属电压控制的用于振荡或转换的半导体器件,由集电极[1]、SiO2绝缘层[2]、N型外延层[3]、P型衬底[4]和发射极[5]组成,该器件的电容值C为其两端电压Vec的函数,其特征是:①P型衬底[4]选用电阻率为0.08Ωcm以下的P型单晶硅,晶向,单面抛光,无位错,厚度为0.34至0.42mm;②N型外延层[3]用硅烷或四氯化硅外延生长,厚度为8至11μm,电阻率为10Ωcm左右,层错密度小于100个/cm2;③背面蒸铝电极制作发射极[5],用真空蒸发法,衬底温度200℃,厚度大于3000A;④SiO2绝缘层[2]是在600℃、干氧流量为400ml/min时二小时内生成,厚度为80至100■,同时背面硅、铝合金化;⑤蒸正面铝,条件同蒸背面铝,只是衬底温度为150℃;⑥用常规光刻工艺反刻铝,制得集电极[1];⑦封装采用2CK22开关二极管的陶瓷环氧封装工艺。
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