[发明专利]发射光谱的表观浓度法无效

专利信息
申请号: 87103303.8 申请日: 1987-04-30
公开(公告)号: CN1004580B 公开(公告)日: 1989-06-21
发明(设计)人: 姚泰煜 申请(专利权)人: 四川省自贡市铸钢厂
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 四川省自贡市专利事务所 代理人: 黄道和,江家清
地址: 四川省自*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于一种原子发射光谱定量测定金属样品中多元素的方法,特别适合于钢铁样品的分析。本方法特征是以表观浓度作为光谱分析中的中间目标量,建立了表观浓度和真实浓度之间的数学计算方法。日常分析中用普通标样建立表观浓度工作曲线,分析未知样品先获得目标元素的表观浓度,再求得真实浓度。本方法能综合校正共存元素干扰和基体浓度变化的影响,提高分析精密度和准确度,简化分析多品种金属样品的手续,提高分析速度,可分析碳钢、中低合金钢和不锈钢样品中的20种元素。
搜索关键词: 发射光谱 表观 浓度
【主权项】:
1.一种发射光谱的表观浓度法,该方法吸取了内标法和共存元素干扰校正技术,利用常规光源直接分析金属样品多元素,其特征是采用一种包括目标元素的真实浓度、共存元素干扰校正量和基体元素浓度校正量在内的浓度函数,即“表观浓度”作为光谱分析的中间目标量,这种表观浓度定义为Ci′=Cj″+ΔCj″(10)可运用求出已知化学组成的标准样品中各元素的表观浓度,用标准样品中包括被测元素和共存元素在内的全部目标元素的表观浓度和相应的分析线对的相对强度拟合“表观浓度工作曲线”,用这样的工作曲线分析未知样品得出各目标元素的表观浓度后,解线性方程组C′1+…+f″1iC″i+…+f″1nC″n=C′l………………………………………………f″11C″1+…+C″i+…+f″inC″n=Ci′(20)………………………………………………f″n1C″1+…+f″niC″i+…+C″n=C′n求得各自标元素的相对浓度,再用求得各目标元素的真实浓度。
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