[发明专利]半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法无效
| 申请号： | 87104597.4 | 申请日： | 1987-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN1011823B | 公开（公告）日： | 1991-02-27 |
| 发明（设计）人： | 赵富;李增锡;葛淑欣;霍一平 | 申请（专利权）人： | 石家庄市自动化研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 河北省专利事务所 | 代理人： | 王苑祥 |
| 地址： | 河北省石*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体整流器件动态寿命试验机及其寿命估算与质量评价方法。可以更加科学、准确地对器件的连续寿命参数做出有价值的分析。其基本设计思想是在标准工况下建立器件的动态试验装置，在提取R参数的监测中得出其寿命估价函数，从而不但能判断其是否通过寿命试验，而且可估算通过器件的寿命。因而它和理有寿命试验相比有更加实用的价值。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 整流 器件 动态 寿命 试验 质量 分级 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体整流器件动态寿命试验机，其特征在于试验机由振荡器1、工况建立部分2、动态反向平均电流R提取电路3、微电脑控制器4、记录装置5和配套电源6组成，其中振荡器1为频率可调的振荡发生电路，其振荡信号送至工况建立部分2中的功率放大电路21，经放大后加在被测元件D的正极上。
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