[发明专利]微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法及系统

摘要

一种微波吸收材料的复介电常数ε和复导磁率μ的测试方法和系统。用微波干涉方法，定标技术和比对测量的方法，得到散射系数S11和S21。该系统包括微波信号单元，能进行四种不同测量转换的放样品装置和S参数测量单元。后者由衰减器，驻波测量线，隔离器，功率传感器和指示器组成。本系统建立容易，操作简单，价格低。其测量精度不低于用微波矢量网络分析仪所获得的结果。

主权项

1.一种微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法为：测量待测样品的两个散射系数S11和S21，用下列公式计算该样品的材料复磁导率μ和复介电常数ε：测量S11和S21步骤为：a、测量待测样品的厚度1；b、测量微波信号的波长λ0；其特征在于还包括以下步骤：c、将上述微波信号分成两路，一路沿与待测样品厚度方向成小于90°角的方向向样品入射，另一路进行幅度衰减获得参考信号，再与样品上的反射信号进行干涉、比对，调节衰减量达到驻波节点的最小电平，测得衰减量Ari和驻波节点的位置Pri；d、在与样品前平面同位置处装上短路板，将它的反射信号与参考信号进行干涉、比对，调节衰减量达到驻波节点的最小电平，测得对反射定标的衰减量Aro和驻波节点的位置Pro；e、计算衰减量的变化Ar＝Arl-ro和驻波节点的移动：Pr＝Pro-Prl+nλ9/2＜λ9/2，n＝0，1，2……，其中，式中λc是截止波长，获得散射系统S11：f、将来自上述待测样品的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对，调节衰减量达到驻波节点的最小电平，测得衰减量Atl和驻波节点的位置Ptl：g、将无样品状态下的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对，调节衰减量达到驻波节点的最小电平，测得对透射定标的衰减量Ato和驻波节点的位置Ptol：h、计算衰减量的变化At＝Atl-Ato和驻波节点的移动：Pt＝Ptl-P1o，获得散射系数S21：