[发明专利]离双折射光纤拍长测量方法及装置无效
| 申请号： | 87107406.0 | 申请日： | 1987-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN1008661B | 公开（公告）日： | 1990-07-04 |
| 发明（设计）人： | 廖延彪;陈国霖;吴庚生 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 胡兰芝 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于利用光电子方法测量光纤性能的技术领域。本发明是利用高双折射光纤的法拉第效应实现对高双折射光纤拍长测量的一种新方案，其主要优点是可不需破坏高双折射光纤的保护层进行无损检测、分辨率高、测量速度快，测量结果不受光纤摆放状态影响，并适于低耗高双折射光纤测量，可测出拍长沿光纤长度的分布。 | ||
| 搜索关键词： | 双折射 光纤 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种高双折射光纤拍长的测量方法，其特征在于当入射光的振动方向平行于光纤的快轴或慢轴时，在沿光纤长度方向加一小于拍长的局部交流磁场并移动其位置，光电探测装置检测到的交流信号连续出现三次零点所对应的磁场移动的距离就是一个拍长的大小。
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