[其他]两用滑体高精度变形计无效

专利信息
申请号: 87205027 申请日: 1987-05-03
公开(公告)号: CN87205027U 公开(公告)日: 1988-03-02
发明(设计)人: 杨杰;郑维虎;刘宝琴;范建平 申请(专利权)人: 四川省地矿局成都水文地质工程地质大队
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30
代理公司: 四川省专利服务中心代理部 代理人: 何书成,刘贵成
地址: 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 两用滑体高精度变形计是用于工程地质定量测量岩、土体位移裂隙的垂直或水平微变形量的测量仪器。由接触台面支架和将工业机械百分表的刻度盘改制成印刷电路坐标刻度与环状串联电阻盘组成的计量坐标系统构成。与全自动岩、土体位移监测的遥控装置接口,直接将岩、土体两点间的微变形量变为电参量进行遥控监测,与一般数字万用表相接可进行就地监测。测量精度可达0.1毫米,用以定量分析位移岩、土体的稳定性。
搜索关键词: 两用 高精度 变形
【主权项】:
1、一种两用滑体高精度变形计,由一根可前后伸缩的顶针与被测物体接触,通过一系列齿轮放大,用指针在刻度盘上指示其物体变形尺寸,其特征是:印刷电路座标刻度盘与环状串联电阻盘组成的计量座标系统和接触台面支架两个互相分离的部件组成,印刷电路座标刻度盘可制成一个或两个量级的园环刻度,其底面制成与量级数相同组数的环状串联电阻盘,从园环刻度的起点和终点各引一导线,分别与相应的串联电阻的起点和终点相接,若为两组串联电阻盘则将其起点和终点并联,使指针与印刷电路座标刻度盘上的刻度始终保持接触而构成计量座标系统,接触台面支架是一具万向节和有一平台面的刚性材料支架。
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