[其他]高频等离子体固体进样装置无效

专利信息
申请号: 87206025 申请日: 1987-03-31
公开(公告)号: CN87206025U 公开(公告)日: 1988-01-20
发明(设计)人: 赵兴焱;车跃;杨德才 申请(专利权)人: 中国有色金属工业总公司西南地质勘探公司地质研究所
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04
代理公司: 云南省专利事务所 代理人: 梁克文
地址: 云南省昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本高频等离子体固体进样装置属于分析化学中发射光谱化学分析领域。为达到快速、灵敏分析目的,设计该固体进样装置。该装置由机壳(1),偏心调节杠(2),振动铁芯线圈(3),装样铁皿(4),送样板(5),雾化室(6),双高频火花电极(7),载气输出管(8),载气输入管(9),双高频电源接线柱(10)等部件组成。特征是具有密封性能良好的雾化室和双高频火花电极,雾化室下装有振动铁芯线圈,该装置结构简单,进样率达95%以上,重现好,样品无残留,粒度范围宽。
搜索关键词: 高频 等离子体 固体 装置
【主权项】:
1、一种高频等离子体固体进样装置,其特征是有雾化室(6),在雾化室下具有密封件(11)和送样板(5),振动池(16)下安装振动铁芯线圈(3)。
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