[其他]新型电子材料及元器件温度特性测试装置无效
申请号: | 87208283 | 申请日: | 1987-05-19 |
公开(公告)号: | CN87208283U | 公开(公告)日: | 1988-03-09 |
发明(设计)人: | 袁战恒;姚熹 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
代理公司: | 西安交通大学专利事务所 | 代理人: | 来智勇 |
地址: | 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种新型电子材料及元器件温度特性辅助测试装置。由样品架、变温器和测温热偶组成,适用于较低频段测试,结构简单,成本低,测试费用小。 | ||
搜索关键词: | 新型 电子 材料 元器件 温度 特性 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种电子材料或元器件辅助测试装置,其特征在于它由样品架、变温器和测温热偶(25)组成,样品架由测温热偶线和电极线引出管(6)、架板(8)、上电极(10)、下电极(12)、下电极固定板(13)和导热金属板(14)组成,变温器由加热器或冷却器或加热器和冷却器组成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/87208283/,转载请声明来源钻瓜专利网。