[其他]气压扫描半导体激光器线宽测试仪无效
| 申请号： | 87208603 | 申请日： | 1987-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN87208603U | 公开（公告）日： | 1988-05-11 |
| 发明（设计）人： | 汪开源;高中林;章建洛;孟晓晶 | 申请（专利权）人： | 南京工学院 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 南京工学院专利事务所 | 代理人： | 楼高潮,沈廉 |
| 地址： | 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 气压扫描半导体激光器线宽测试仪是一种激光器参数测试仪器，它由望远镜系统、密封气压室、F-P标准具和气压控制系统及压力传感器等组成；可以用x-y记录仪直接画出激光的线形和模式，也可以同时用Z-80单板机直接读出激光器线宽的数值；具有结构简单、操作方便、性能稳定和成本低等优点，对环境条件无特殊要求，测量精度较高；不仅可以测量半导体激光器线宽，还可以制成干涉仪，用于测量气体折射率和微位移。 | ||
| 搜索关键词： | 气压 扫描 半导体激光器 测试仪 | ||
【主权项】：
1、气压扫描半导体激光器线宽测试仪由望远镜系统、F-P标准具和气压室等组成，其特征在于F-P标准具放在一个密封气压空中，控制气压室(3)中气体变化的气压控制系统(9)与气压室相通，气压室还与反映气压信号的压力传感器(5)相连。
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